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超景深數碼顯微鏡MX-E1系列
MX-E1超景深數碼顯微鏡,是集成高清顯微觀察、高清影像拍攝、智能精準測量三大核心功能于一體的專業精密檢測設備。操作便捷高效,無需復雜調試即可快速完成觀測、成像與數據測量,為工業生產與科研工作提供高精準、高效率、高便捷性的微觀觀測解決方案。
全自動影像測量儀MF-3000系列
MF-3000 全自動影像測量儀,主打一鍵智能操作,兼具高效檢測、高精精準、運行穩定三大核心優勢。無需專業測量技術人員操作,徹底規避人工檢測誤差;支持一鍵批量檢測 1000 余件工件、5000 多項尺寸,大幅縮減測量工時,顯著提升質檢效率,保障產品品質高度統一。
白光干涉儀MT-W1系列
MT-W1白光干涉儀通過干涉條紋解析,可實現納米級分辨率的三維形貌表征,精準捕捉樣品表面的高度差、粗糙度、臺階高度、膜厚等關鍵參數,為精密制造與前沿科研提供可靠的微觀分析依據。應用場景覆蓋半導體晶圓、MEMS 器件、精密光學元件、精密加工件、涂層材 料等多個領域。
定制化顯微系統
我們為客戶提供高度定制化的非標顯微鏡系統開發服務。針對客戶在特殊觀測場景、復雜樣品結構、嚴苛檢測標準下的個性化需求,我們將共聚焦、白光干涉、超景深等核心能力模塊化、敏捷化,針對不同行業的非標檢測難題,打造專屬的微觀觀測與檢測解決方案。
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